O filatelista brasileiro Fernando Silva Moreira dos Santos apresentou seu extraordinário trabalho “Non-destructive analysis: Creating standards for Imperial brazilian stamps from a case study of Cottens Essays” no III Simpósio Internacional de Métodos Analíticos na Filatelia, organizado pelo Institute for Analytical Philately em Londres. O filatelista chama a atenção sobre a bolsa oferecida pelo IAP para estudos em filatelia, que além de disponibilidade de equipamentos em institutos americanos, como o Smithsonian Institute, também pode cobrir despesas com viagem.

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